Αριθμός ανταλλακτικού 575

Semiconductor Device Test Set

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.

Η ιστορική τιμολόγηση για αυτό το προϊόν είναι μεταξύ 2150 and 2902.5 USD. Ανάλογα με την ποσότητα, τη διαθεσιμότητα, την κατάσταση, τον χρόνο παράδοσης και την πιθανή διακοπή ενός προϊόντος, δεν μπορούμε να εγγυηθούμε την τιμολόγηση μέχρι να σας παρέχουμε μια ενημερωμένη προσφορά.

Αριθμός ανταλλακτικού

Αποστρατιωτικοποίηση

Διάρκεια ζωής

UOM

NIIN

Αριθμός ανταλλακτικού:

575

Αποστρατιωτικοποίηση:

Διάρκεια ζωής:

N/A

Μονάδα μέτρησης:

1 EA

NIIN:

006916529

Πληροφορίες ανταλλακτικού
Single or repetitive displays; direct comparison of transistor characteristics; selectr circuit parameters w/front panel controls; total diode measurements

NSN

Εθνικός αριθμός αποθέματος:

6625-00-691-6529 6625006916529

TXT

Περιγραφή:

Semiconductor Device Test Set

INC

Κωδικός ονόματος στοιχείου:

25006

MRC:

The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN

Ac Voltage Rating:

Between 105.0 volts and 250.0 volts

MRC:

The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB

Frequency Rating:

Between 50.0 hertz and 60.0 hertz

MRC:

The relationship of the electrical power source to the item.AKWC

Electrical Power Source Relationship:

Operating

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/housing

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

Fault isolation

MRC:

The number of alternating current phases.FAAZ

Phase:

Single

MRC:

The alpha-numeric designation that identifies the classification of the item according to the category of functions performed.FCLS

Functional Classification:

Aa-9.6

MRC:

Describes the capabilities,intended use,and/or purpose for which the item is provided.FTLD

Functional Description:

Used to display dynamic characteristic curves of wide range of semiconductor devices

MRC:

Indicates the date the item was entered into mil-hdbk-300.NTRD

Entry Date:

78-09-01

MRC:

Literature and references available for information pertaining to the item.RDAL

Reference Data And Literature:

Tektronic catalog 1967

MRC:

Characteristics or qualities of an item,not covered in any other requirement,which are considered essential information for one or more functions excluding nsn assignment.SUPP

Supplementary Features:

Display area 10x10 di (5/16 in. Per div)

Αριθμός ανταλλακτικού	RNVC	RNAAC	DAC	CAGE
575	2	SB	5	80009
TS-3308/U	2	SB	4	80058

Κώδικας	Ορισμός
FN	Εργοστάσιο Νέο. Ανταλλακτικά που κατασκευάζονται από τότε OEM και περιλαμβάνει πιστοποίηση κατασκευαστή.
NE	Νέος. Ανταλλακτικά κατασκευασμένα από τον ΚΑΕ. Μπορεί να περιλαμβάνει πιστοποίηση κατασκευαστή ή πιστοποίηση εταιρείας.
NS	Νέο πλεόνασμα. Νέο υλικό στοιχείο που αγοράστηκε από υπερβολικό απόθεμα.
OH	Αναθεωρήθηκε. Το προϊόν έχει ανακατασκευαστεί και δοκιμαστεί σύμφωνα με τις προδιαγραφές του κατασκευαστή από συνεργείο επισκευής (MRO).
SV	Επισκευάσιμο προϊόν
AR	Όπως αφαιρέθηκε. Προϊόν που αφαιρείται από αεροσκάφος ή πλατφόρμα χωρίς εγγύηση για τη λειτουργικότητα του εξαρτήματος.
RP	Επισκευάσιμα. Το προϊόν μπορεί να επισκευαστεί από MRO και να λάβει πιστοποίηση FAA 8130 ή EASA Form 1.

Αριθμός ανταλλακτικού 575

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Όμοιος Semiconductor Device Test Sets

Σύγκριση τώρα»