Αριθμός ανταλλακτικού 851

Semiconductor Device Test Set
Περιγραφή

Washer, insulating

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.
Αριθμός ανταλλακτικού:
Ποσότητα:
Διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου:
Τηλέφωνο:
Αναφορά:
Εταιρεία:
Όνομα:

Δεν μοιραζόμαστε ούτε πουλάμε τις πληροφορίες σας σε κανέναν.
Μυστικότητα | Όροι

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards
Αριθμός ανταλλακτικού
Αποστρατιωτικοποίηση
Διάρκεια ζωής
UOM
NIIN
Αριθμός ανταλλακτικού:
851
Αποστρατιωτικοποίηση:
No
Διάρκεια ζωής:
Μονάδα μέτρησης:
NIIN:
000872973
NSN
Εθνικός αριθμός αποθέματος:
6625-00-087-2973 6625000872973
TXT
Περιγραφή:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Κωδικός ονόματος στοιχείου:
25006
MRC:
A measurement taken at right angles to the length of an item,in distinction from thickness.ABGL
Width:
250.0 millimeters
MRC:
The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN
Ac Voltage Rating:
115.0 volts
MRC:
The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB
Frequency Rating:
60.0 hertz
MRC:
A linear measurement from the surface to a specified inner point on an item,in distinction from height.AEJZ
Depth:
286.0 millimeters
MRC:
The national stock number or the identification information of the end equipment for which the item is a part.AGAV
End Application:
Nsn 5826-00-117-7747 calibration bench mock up
MRC:
The relationship of the electrical power source to the item.AKWC
Electrical Power Source Relationship:
Operating
MRC:
An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ
Inclosure Feature:
Single item w/housing
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
In-circuit testing of components
MRC:
The number of alternating current phases.FAAZ
Phase:
Single
MRC:
A measurement from the bottom to the top of an object,in distinction from depth.HGTH
Height:
86.0 millimeters
MRC:
Literature and references available for information pertaining to the item.RDAL
Reference Data And Literature:
To 33a1-15-55-4

Όμοιος Semiconductor Device Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
Σύγκριση τώρα»
Σαφής | Κρύβω