Αριθμός ανταλλακτικού AFIT3000A

Semiconductor Device Test Set

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.
Αριθμός ανταλλακτικού:
Ποσότητα:
Διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου:
Τηλέφωνο:
Αναφορά:
Εταιρεία:
Όνομα:

Δεν μοιραζόμαστε ούτε πουλάμε τις πληροφορίες σας σε κανέναν.
Μυστικότητα | Όροι

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards
Αριθμός ανταλλακτικού
Αποστρατιωτικοποίηση
Διάρκεια ζωής
UOM
NIIN
Αριθμός ανταλλακτικού:
afit3000a
Αποστρατιωτικοποίηση:
No
Διάρκεια ζωής:
Μονάδα μέτρησης:
NIIN:
010767916

Πληροφορίες ανταλλακτικού
A master library disc containing individual truth table data for ic's in the ttl, dtl, & cmos logic families is included

NSN
Εθνικός αριθμός αποθέματος:
6625-01-076-7916 6625010767916
TXT
Περιγραφή:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Κωδικός ονόματος στοιχείου:
25006
MRC:
The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN
Ac Voltage Rating:
115.0 volts
MRC:
The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB
Frequency Rating:
60.0 hertz
MRC:
The relationship of the electrical power source to the item.AKWC
Electrical Power Source Relationship:
Operating
MRC:
An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ
Inclosure Feature:
Single item w/housing
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
Integrated circuit fault isolation
MRC:
The number of alternating current phases.FAAZ
Phase:
Single
MRC:
Characteristics or qualities of an item,not covered in any other requirement,which are considered essential information for one or more functions excluding nsn assignment.SUPP
Supplementary Features:
Manufacturers name: digital pcb test system

Όμοιος Semiconductor Device Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
Σύγκριση τώρα»
Σαφής | Κρύβω