Αριθμός ανταλλακτικού JANTX1N5474C

Diode Semiconductor Device

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.
Αριθμός ανταλλακτικού:
Ποσότητα:
Διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου:
Τηλέφωνο:
Αναφορά:
Εταιρεία:
Όνομα:

Δεν μοιραζόμαστε ούτε πουλάμε τις πληροφορίες σας σε κανέναν.
Μυστικότητα | Όροι

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards

Η ιστορική τιμολόγηση για αυτό το προϊόν είναι μεταξύ 106.16 and 143.316 USD. Ανάλογα με την ποσότητα, τη διαθεσιμότητα, την κατάσταση, τον χρόνο παράδοσης και την πιθανή διακοπή ενός προϊόντος, δεν μπορούμε να εγγυηθούμε την τιμολόγηση μέχρι να σας παρέχουμε μια ενημερωμένη προσφορά.

Αριθμός ανταλλακτικού
Αποστρατιωτικοποίηση
Διάρκεια ζωής
UOM
NIIN
Αριθμός ανταλλακτικού:
jantx1n5474c
Αποστρατιωτικοποίηση:
No
Διάρκεια ζωής:
N/A
Μονάδα μέτρησης:
1 EA
NIIN:
013432442
NSN
Εθνικός αριθμός αποθέματος:
5961-01-343-2442 5961013432442
TXT
Περιγραφή:
Diode Semiconductor Device
INC
INC
Κωδικός ονόματος στοιχείου:
20589
MRC:
The chemical compound or mechanical mixture properties of which the semiconductor is fabricated.CTMZ
Semiconductor Material:
Silicon
MRC:
The value of the voltage that may be applied,expressed in volts,and the symbol used to identify the specific electrical characteristic.CTQN
Voltage Rating In Volts Per Characteristic:
30.0 reverse voltage, peak
MRC:
The amount of electrical power that can be dissipated and the specific electrical characteristic.CTRD
Power Rating Per Characteristic:
400.0 milliwatts small-signal input power, common-collector absolute
MRC:
The relative level of the quantity of electrical charge at a given potential which the item is receiving and storing,expressed in picofarads.CTRG
Capacitance Rating In Picofarads:
69.36
MRC:
The maximum temperature at which the item is designed to operate at each measurement point.CTSG
Maximum Operating Tempurature Per Measurement Point:
175.0 degrees celsius ambient air
MRC:
The specification,standard,drawing,or similar instrument that specifies environmental and performance requirements or test conditions under which an item is tested and establishes acceptable limits within which the item must conform identified by an alphabetic and/or numeric reference number. includes the commercial and government entity (cage) code of the entity controlling the instrument.TEST
Test Data Document:
81349-mil-s-19500/436 specification (includes engineering type bulletins, brochures, etc., that reflect specification type data in specification format; excludes commercial catalogs, industry directories, and similar trade publications, reflecting general type data on certain environmental and performance requirements and test conditions that are shown as "typical", "average", "", etc.).

Όμοιος Diode Semiconductor Devices

« Semiconductor Devices and Associated Hardware {lang[catalog]}
Σύγκριση τώρα»
Σαφής | Κρύβω