Αριθμός ανταλλακτικού LCR55A

Semiconductor Device Test Set

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.
Αριθμός ανταλλακτικού:
Ποσότητα:
Διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου:
Τηλέφωνο:
Αναφορά:
Εταιρεία:
Όνομα:

Δεν μοιραζόμαστε ούτε πουλάμε τις πληροφορίες σας σε κανέναν.
Μυστικότητα | Όροι

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards

Η ιστορική τιμολόγηση για αυτό το προϊόν είναι μεταξύ 470.62 and 635.337 USD. Ανάλογα με την ποσότητα, τη διαθεσιμότητα, την κατάσταση, τον χρόνο παράδοσης και την πιθανή διακοπή ενός προϊόντος, δεν μπορούμε να εγγυηθούμε την τιμολόγηση μέχρι να σας παρέχουμε μια ενημερωμένη προσφορά.

Αριθμός ανταλλακτικού
Αποστρατιωτικοποίηση
Διάρκεια ζωής
UOM
NIIN
Αριθμός ανταλλακτικού:
lcr55a
Αποστρατιωτικοποίηση:
Yes - DEMIL/MLI
Διάρκεια ζωής:
N/A
Μονάδα μέτρησης:
1 EA
NIIN:
015683263
NSN
Εθνικός αριθμός αποθέματος:
6625-01-568-3263 6625015683263
TXT
Περιγραφή:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Κωδικός ονόματος στοιχείου:
25006
INC
COM
Συμμόρφωση:
MRC:
A measurement taken at right angles to the length of an item,in distinction from thickness.ABGL
Width:
38.0 millimeters
MRC:
A measurement of the longest dimension of any object,in distinction from width.ABRY
Length:
183.0 millimeters
MRC:
A linear measurement from the surface to a specified inner point on an item,in distinction from height.AEJZ
Depth:
79.0 millimeters
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
Inductance, coapacitance, resistance, transistors, diodes

Όμοιος Semiconductor Device Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
Σύγκριση τώρα»
Σαφής | Κρύβω