Αριθμός ανταλλακτικού MIL-HDBK-300ATS

Name: Semiconductor Device Test Set
Brand: MIL-HDBK-300

Semiconductor Device Test Set

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.

Η ιστορική τιμολόγηση για αυτό το προϊόν είναι μεταξύ 4550 and 5950 USD. Ανάλογα με την ποσότητα, τη διαθεσιμότητα, την κατάσταση, τον χρόνο παράδοσης και την πιθανή διακοπή ενός προϊόντος, δεν μπορούμε να εγγυηθούμε την τιμολόγηση μέχρι να σας παρέχουμε μια ενημερωμένη προσφορά.

Αριθμός ανταλλακτικού

Αποστρατιωτικοποίηση

Διάρκεια ζωής

UOM

NIIN

Αριθμός ανταλλακτικού:

mil-hdbk-300ats

Αποστρατιωτικοποίηση:

Yes - DEMIL/MLI

Διάρκεια ζωής:

N/A

Μονάδα μέτρησης:

1 EA

NIIN:

015777189

Πληροφορίες ανταλλακτικού
Test set, semiconductor

NSN

Εθνικός αριθμός αποθέματος:

6625-01-577-7189 6625015777189

TXT

Περιγραφή:

Semiconductor Device Test Set

INC

Κωδικός ονόματος στοιχείου:

25006

INC

COM

Συμμόρφωση:

* ITAR Controlled

MRC:

The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN

Ac Voltage Rating:

110.0 volts or 240.0 volts

MRC:

The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB

Frequency Rating:

Between 50.0 hertz and 400.0 hertz

MRC:

The principal parts that are included in an assembled unit.AEAS

Major Components:

Test set; pair microprobes; common test leads; shrouded test lead; power cord; cd manual

MRC:

The number of parts supplied with the item which may be required for application.AFHS

Accessory Component Quantity:

MRC:

The relationship of the electrical power source to the item.AKWC

Electrical Power Source Relationship:

Operating

MRC:

An indication of whether or not a facility/ies/ to accommodate a battery/ies/ is included.ALSF

Internal Battery Accommodation:

Not included

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/housing

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

In-circuit electronic component testing

MRC:

The number of alternating current phases.FAAZ

Phase:

Single

MRC:

The alpha-numeric designation that identifies the classification of the item according to the category of functions performed.FCLS

Functional Classification:

Aa-9.6

MRC:

Those unusual or unique characteristics or qualities of an item not covered in the other requirements and which are determined to be essential for identification.FEAT

Special Features:

Meets mil-prf-28800 class 3

MRC:

Describes the capabilities,intended use,and/or purpose for which the item is provided.FTLD

Functional Description:

Used to in-circuit test semiconductor components

MRC:

Indicates the date the item was entered into mil-hdbk-300.NTRD

Entry Date:

09-09-08

MRC:

The controlling activity and identification of a document used in lieu of a specification in the procurement of an item of supply.ZZZP

Purchase Description Identification:

98752-pd09wrgbec24

Αριθμός ανταλλακτικού	RNVC	RNAAC	DAC	CAGE
MIL-HDBK-300(ATS)	1	ZZ	4	1HBK1
PD09WRGBEC24	2	ZZ	4	98752

Κώδικας	Ορισμός
FN	Εργοστάσιο Νέο. Ανταλλακτικά που κατασκευάζονται από τότε OEM και περιλαμβάνει πιστοποίηση κατασκευαστή.
NE	Νέος. Ανταλλακτικά κατασκευασμένα από τον ΚΑΕ. Μπορεί να περιλαμβάνει πιστοποίηση κατασκευαστή ή πιστοποίηση εταιρείας.
NS	Νέο πλεόνασμα. Νέο υλικό στοιχείο που αγοράστηκε από υπερβολικό απόθεμα.
OH	Αναθεωρήθηκε. Το προϊόν έχει ανακατασκευαστεί και δοκιμαστεί σύμφωνα με τις προδιαγραφές του κατασκευαστή από συνεργείο επισκευής (MRO).
SV	Επισκευάσιμο προϊόν
AR	Όπως αφαιρέθηκε. Προϊόν που αφαιρείται από αεροσκάφος ή πλατφόρμα χωρίς εγγύηση για τη λειτουργικότητα του εξαρτήματος.
RP	Επισκευάσιμα. Το προϊόν μπορεί να επισκευαστεί από MRO και να λάβει πιστοποίηση FAA 8130 ή EASA Form 1.

Αριθμός ανταλλακτικού MIL-HDBK-300ATS

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Όμοιος Semiconductor Device Test Sets

Σύγκριση τώρα»