Αριθμός ανταλλακτικού ST2954

Semiconductor Device Test Set

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.

Αριθμός ανταλλακτικού

Αποστρατιωτικοποίηση

Διάρκεια ζωής

UOM

NIIN

Αριθμός ανταλλακτικού:

st2954

Αποστρατιωτικοποίηση:

Διάρκεια ζωής:

Μονάδα μέτρησης:

NIIN:

007248444

NSN

Εθνικός αριθμός αποθέματος:

6625-00-724-8444 6625007248444

TXT

Περιγραφή:

Semiconductor Device Test Set

INC

Κωδικός ονόματος στοιχείου:

25006

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/housing

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

Measurement of transistors

MRC:

The alpha-numeric designation that identifies the classification of the item according to the category of functions performed.FCLS

Functional Classification:

Aa-9.3

Κώδικας	Ορισμός
FN	Εργοστάσιο Νέο. Ανταλλακτικά που κατασκευάζονται από τότε OEM και περιλαμβάνει πιστοποίηση κατασκευαστή.
NE	Νέος. Ανταλλακτικά κατασκευασμένα από τον ΚΑΕ. Μπορεί να περιλαμβάνει πιστοποίηση κατασκευαστή ή πιστοποίηση εταιρείας.
NS	Νέο πλεόνασμα. Νέο υλικό στοιχείο που αγοράστηκε από υπερβολικό απόθεμα.
OH	Αναθεωρήθηκε. Το προϊόν έχει ανακατασκευαστεί και δοκιμαστεί σύμφωνα με τις προδιαγραφές του κατασκευαστή από συνεργείο επισκευής (MRO).
SV	Επισκευάσιμο προϊόν
AR	Όπως αφαιρέθηκε. Προϊόν που αφαιρείται από αεροσκάφος ή πλατφόρμα χωρίς εγγύηση για τη λειτουργικότητα του εξαρτήματος.
RP	Επισκευάσιμα. Το προϊόν μπορεί να επισκευαστεί από MRO και να λάβει πιστοποίηση FAA 8130 ή EASA Form 1.