Αριθμός ανταλλακτικού TRACKER1000

Semiconductor Device Test Set

Τιμολόγηση και διαθεσιμότητα

Υποβάλετε αυτήν τη φόρμα για τις τρέχουσες τιμές και τη διαθεσιμότητα αυτού του NSN.
Αριθμός ανταλλακτικού:
Ποσότητα:
Διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου:
Τηλέφωνο:
Αναφορά:
Εταιρεία:
Όνομα:

Δεν μοιραζόμαστε ούτε πουλάμε τις πληροφορίες σας σε κανέναν.
Μυστικότητα | Όροι

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards

Η ιστορική τιμολόγηση για αυτό το προϊόν είναι μεταξύ 1214.88 and 1640.088 USD. Ανάλογα με την ποσότητα, τη διαθεσιμότητα, την κατάσταση, τον χρόνο παράδοσης και την πιθανή διακοπή ενός προϊόντος, δεν μπορούμε να εγγυηθούμε την τιμολόγηση μέχρι να σας παρέχουμε μια ενημερωμένη προσφορά.

Αριθμός ανταλλακτικού
Αποστρατιωτικοποίηση
Διάρκεια ζωής
UOM
NIIN
Αριθμός ανταλλακτικού:
tracker1000
Αποστρατιωτικοποίηση:
No
Διάρκεια ζωής:
N/A
Μονάδα μέτρησης:
1 EA
NIIN:
011150395
NSN
Εθνικός αριθμός αποθέματος:
6625-01-115-0395 6625011150395
TXT
Περιγραφή:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Κωδικός ονόματος στοιχείου:
25006
MRC:
A measurement taken at right angles to the length of an item,in distinction from thickness.ABGL
Width:
250.0 millimeters
MRC:
The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN
Ac Voltage Rating:
115.0 volts
MRC:
The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB
Frequency Rating:
60.0 hertz
MRC:
A linear measurement from the surface to a specified inner point on an item,in distinction from height.AEJZ
Depth:
286.0 millimeters
MRC:
The relationship of the electrical power source to the item.AKWC
Electrical Power Source Relationship:
Operating
MRC:
An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ
Inclosure Feature:
Single item w/housing
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
In-circuit testing of components
MRC:
The alpha-numeric designation that identifies the classification of the item according to the category of functions performed.FCLS
Functional Classification:
Aa-9.3
MRC:
A measurement from the bottom to the top of an object,in distinction from depth.HGTH
Height:
86.0 millimeters

Όμοιος Semiconductor Device Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
Σύγκριση τώρα»
Σαφής | Κρύβω